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半导体与显示

半导体与显示 (Semiconductor & Display)

LEE & MOCK IP基于在半导体与显示产业领域长期积累的技术认知与实务经验,协助客户保护其核心技术的同时提升其在全球专利市场中的竞争力。

业务范围涵盖先进工艺与器件技术相关的专利布局、申请、无效及侵权纠纷、许可、专利组合构建等领域。

尤其在存储器及系统半导体、AI半导体(NPU/PIM)、新一代高带宽内存(HBM)、车用半导体、高功率电力半导体、半导体前道与后道工艺及先进封装、半导体电路设计、图像传感器(CIS)、极紫外光刻(EUV)工艺材料与耗材、半导体测试技术、有机电致发光显示(OLED)、微型发光二极管(Micro LED)、新一代量子点(QD)显示、柔性/可折叠/可拉伸显示、光学薄膜、显示驱动芯片(DDI)、新一代显示材料等方面具备丰富的经验。此外,还针对半导体与显示制造设备、检测设备及自动化生产技术提供专业化的知识产权服务与咨询服务。

LEE & MOCK IP凭借对技术与产业结构的深度理解,助力客户将尖端电子产业技术转化为具备全球竞争力的IP资产的同时得到切实保护。